Identificar si un transistor está en cortocircuito o abierto requiere diferentes métodos de prueba según el tipo de falla sospechada. Para verificar si hay un transistor en cortocircuito, puede usar un multímetro en modo de verificación de diodos o en modo de resistencia. En el modo de verificación de diodos, coloque las sondas del multímetro en las uniones de la base del colector y de la base del emisor del transistor. Si el transistor está en cortocircuito, el multímetro normalmente mostrará una lectura de resistencia muy baja (cerca de cero ohmios), lo que indica una conexión directa entre los terminales. En el modo de resistencia, también debería ver una lectura de resistencia baja en estas uniones, lo que confirma el cortocircuito.
Por otro lado, para identificar un transistor abierto (donde el transistor no conduce en absoluto), use el modo de verificación de diodos del multímetro en las mismas uniones (colector-base y emisor-base). En este caso, un transistor en buen estado debería mostrar una caída de voltaje similar a la de un diodo (alrededor de 0,6 a 0,7 voltios para transistores de silicio) en una dirección y una alta resistencia o un circuito abierto en la dirección inversa. Si no obtiene ninguna lectura o obtiene una resistencia muy alta en ambas direcciones, indica que las uniones del transistor pueden estar abiertas, lo que significa que no puede fluir corriente a través de ellas.
Determinar si un transistor está roto generalmente implica probarlo con un multímetro usando dos métodos principales: el modo de verificación de diodo y el modo de medición hFE (ganancia de corriente CC). En el modo de verificación de diodos, puede probar cada unión (base-colector y base-emisor) para asegurarse de que el transistor muestre la caída de voltaje directo esperada (alrededor de 0,6 a 0,7 voltios para transistores de silicio) y una alta resistencia o un circuito abierto en polarización inversa. Si el transistor no muestra las características esperadas del diodo o si ambas direcciones muestran una resistencia alta, es posible que esté defectuoso.
Otro método consiste en medir la hFE (ganancia de corriente CC) del transistor utilizando el multímetro en modo hFE (si está disponible). Este modo aplica una pequeña corriente a la base del transistor y mide la relación entre la corriente del colector y la corriente de la base (hFE). Un transistor en buen estado normalmente tiene un valor hFE dentro de su rango especificado (que varía según el tipo y modelo de transistor). Si la medición de hFE es significativamente diferente del valor esperado o si fluctúa mucho, puede indicar un transistor defectuoso.
Para confirmar de manera concluyente que un transistor está defectuoso, puedes realizar pruebas o comparaciones adicionales. Por ejemplo, compare las mediciones del transistor sospechoso con un transistor en buen estado del mismo tipo y modelo. Si hay diferencias significativas en las lecturas entre los dos transistores, esto sugiere fuertemente que el transistor sospechoso está defectuoso. Además, inspeccione visualmente el transistor en busca de daños físicos como grietas, quemaduras o corrosión, lo que podría indicar daños internos que afecten su rendimiento. Al combinar estos métodos (verificación de diodos, medición de hFE, comparación con un transistor en buen estado e inspección visual), puede confirmar de manera efectiva si un transistor está defectuoso y necesita reemplazo.