Optique haute vitesse d’Analog Devices (> 50 MHz) Les assemblages rail-à-rail d’Analog Devices vous permettent de travailler avec des tensions d’alimentation plus faibles, de vous rapprocher des voies et de fournir une plage dynamique plus large.
Equipé d’un portefeuille comprenant une large gamme d’amplificateurs opérationnels, qui comprend à la fois l’entrée/sortie ferroviaire et la production rail/rail, ADI propose la plus large gamme de produits haut de gamme disponibles sur le marché. Qu’il s’agisse de haut débit, de faible vitesse, de distorsion réduite ou de suivi ferroviaire, personne n’impose plus de normes de performances pour les modèles de nouvelle génération que les appareils analogiques.
Les publicités pour les amplificateurs opérationnels à source unique nécessitent souvent une sortie de voie ferrée. Que signifie réellement cette affirmation ? La première page de la fiche technique d’une des alimentations monosources peut faire appel à la puce ou à la puce entrant/sortant ; continuez à lire car si vous recherchez un amplificateur avec une seule source d’alimentation dont la sortie peut être pilotée jusqu’à un rail d’alimentation et/ou l’autre, bonne chance. Que faut-il savoir sur les performances d’un amplificateur qui prétend sortir de piste en piste ?
Deux spécifications d’amplificateur vous aideront à résoudre ce problème : la tension de sortie et le gain de tension en circuit ouvert.
Le démarrage de la tension de sortie d’un amplificateur optique définit dans quelle mesure la sortie de l’amplificateur peut être pilotée sur la ligne d’alimentation positive ou négative. Les conditions de test pour les tests tangentiels de sortie haute tension (VOH) et basse tension (VOL) font généralement sortir l’amplificateur de sa région linéaire. Les spécifications de l’amplificateur en boucle ouverte (AVOL) concernent principalement le rapport entre la variation de la tension de sortie et la tension de sortie lorsque la tension de décalage de la tension d’entrée change, mais fournissent également des indices de linéarité de sortie dans des conditions de test.
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