Testar um transistor envolve vários métodos para garantir o funcionamento adequado. Um método comum é usar um multímetro no modo de teste de diodo. Para testar um transistor de junção bipolar (BJT), coloque as pontas de prova do multímetro nos terminais da base e do coletor e observe a queda de tensão. Então, você inverte as pontas de prova e verifica a outra junção (base-emissor). A operação adequada mostra uma queda de tensão em torno de 0,6 V a 0,7 V para BJTs de silício em uma direção e uma alta resistência ou circuito aberto na direção reversa. Para transistores de efeito de campo (FETs), você mede a resistência entre a porta e os terminais de fonte/dreno para verificar os caminhos de condução adequados.
Determinar se um transistor está com defeito envolve alguns indicadores. Usando um multímetro no modo de teste de diodo, você pode verificar cada junção (base-emissor, base-coletor para BJTs; porta-fonte, porta-dreno para FETs) quanto a curtos ou circuitos abertos. Um transistor provavelmente está com defeito se ambas as direções mostrarem baixa resistência ou continuidade, indicando um curto-circuito. Além disso, o uso de um testador de transistor pode fornecer leituras mais detalhadas de ganho e vazamento, ajudando a identificar transistores defeituosos que mostram leituras inesperadas ou nenhuma resposta durante o teste.
Existem dois métodos principais para testar transistores: testes estáticos e dinâmicos. Os testes estáticos envolvem o uso de um multímetro ou testador de transistor para medir os parâmetros DC do transistor, como quedas de tensão direta e valores de resistência entre os terminais. Os testes dinâmicos envolvem a aplicação de sinais variados aos terminais do transistor para observar sua resposta, avaliando parâmetros como ganho, resposta de frequência e características de comutação. Ambos os métodos são essenciais para testes abrangentes para garantir a operação adequada e diagnosticar falhas com precisão.
Testar um transistor em curto requer observação cuidadosa e ferramentas de diagnóstico. Com um multímetro no modo de teste de diodo, verifique cada junção (base-emissor, base-coletor para BJTs; porta-fonte, porta-dreno para FETs) quanto a baixa resistência inesperada ou continuidade em ambas as direções. Um transistor em curto normalmente mostrará uma leitura de baixa resistência ou quase zero em ambas as direções nas junções afetadas. Além disso, o uso de um testador de transistor ou osciloscópio pode ajudar a confirmar comportamento anormal ou falta de resposta esperada durante testes dinâmicos, indicando um curto-circuito ou falha interna no transistor.